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產(chǎn)品詳細(xì)頁(yè)DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀(瞬態(tài)平面熱源法),主要測(cè)量固體、粉末、涂層、薄膜、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù)。
- 產(chǎn)品型號(hào):DRE-2C
- 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
- 更新時(shí)間:2024-11-07
- 訪 問(wèn) 量:5557
產(chǎn)品介紹
湘潭湘科DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀(瞬態(tài)平面熱源法),瞬態(tài)平面導(dǎo)熱儀,巖石巖土導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀
DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀采用瞬態(tài)平面熱源法,主要測(cè)量固體、粉末、涂層、薄膜、各向異性材料等的導(dǎo)熱系數(shù)。本儀器基于TPS瞬態(tài)平面熱源技術(shù),用Hot Disk作為探頭的導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀。
Hot Disk法的優(yōu)點(diǎn)有:
(1)直接測(cè)量熱傳播,可以節(jié)約大量的時(shí)間;
(2)不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響;
(3)無(wú)須特別的樣品制備,只需相對(duì)平整的樣品表面。
DRE-2C導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試儀(瞬態(tài)平面熱源法)主要技術(shù)指標(biāo):
1、導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定范圍:0.0001—300W/mk,分辨率:0.0001 W/(m·K);
2、測(cè)量時(shí)間:1-600秒,
3、測(cè)量相對(duì)誤差:≤3%;重復(fù)性誤差:≤ 3%;
4、溫度范圍:標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量:室溫,可根據(jù)客戶要求選配各種溫度段的測(cè)試溫度,如室溫~150℃選配恒溫實(shí)驗(yàn)箱,-40℃~100℃選配高低溫實(shí)驗(yàn)箱等,費(fèi)用另計(jì);
5、樣品尺寸:
固體塊狀樣品:樣品尺寸不小于30*30*7.5mm;單層不夠的可多層疊加檢測(cè),相對(duì)平整的樣品表面;粉體材料膠體材料可用直接插入探頭檢測(cè);
6、儀器參考標(biāo)準(zhǔn):ISO 22007-2008及GB/T32064-2015建筑用材料導(dǎo)熱系數(shù)和熱擴(kuò)散系數(shù)瞬態(tài)平面熱源測(cè)試法.
7、操作方便,測(cè)試速快,僅需將測(cè)試探頭夾在兩塊試樣塊中間,通過(guò)簡(jiǎn)單的軟件點(diǎn)擊操作即能獲得被測(cè)試樣的導(dǎo)熱系數(shù)。
8、 電源:電壓220V;頻率50Hz;功率<500W,
9、通訊接口:USB接口。
探頭技術(shù)指標(biāo):
1. 加熱材料:金屬鎳;
2. 使用溫度:-50~150℃;
3. 最大功率:20w;
4. 最大電壓:20V;
5. 最大電流:1A;
6. 電阻:10Ω左右,依探頭上標(biāo)注阻值為準(zhǔn);
7. 鎳絲規(guī)格:厚度0.01mm,熱絲寬度:0.35±0.03mm;熱絲間距:0.35±0.03mm ;
8. 保護(hù)層材料:聚酰亞胺薄膜(Kapton);單層厚度:0.06mm
9. 探頭直徑:7.5mm或15mm,兩種規(guī)格任選;
10. 探頭總厚度(包括粘結(jié)層厚度)0.07±0.02mm。
儀器配置:含DRE-2C測(cè)試主機(jī)1臺(tái),測(cè)試探頭1個(gè),測(cè)試軟件1套,通訊接口及數(shù)據(jù)線1套,樣品夾具1個(gè),電腦1臺(tái),如需選配恒溫裝置,費(fèi)用另計(jì)。
湘科品牌,瞬態(tài)平面導(dǎo)熱儀廠家直供,售后保證!